WikiSort.ru - Не сортированное

Институт физики микроструктур РАН (ИФМ РАН)
Международное название	Institute for Physics of Microstructures RAS (IPM RAS)
Основан	1993
Директор	З. Ф. Красильник
Сотрудников	~250
Аспирантура	~20
Расположение	Россия Россия, Нижний Новгород
Юридический адрес	ГСП-105, Нижний Новгород, 603950, Россия
Сайт	ipmras.ru

Институт физики микроструктур РАН (ИФМ РАН) был создан в 1993 году (Постановление Президиума РАН № 173 от 28 сентября 1993) на базе Отделения физики твердого тела Института прикладной физики РАН. Первым директором института стал С. В. Гапонов (член-корр. РАН — с 1994 г., академик — с 2008 г., с 2009 г. — советник РАН). В 2009 году ИФМ РАН возглавил профессор З. Ф. Красильник, в 2015 году — профессор В. И. Гавриленко, в 2016 году — снова З. Ф. Красильник.

С 2016 года институт является филиалом Федерального исследовательского центра ИПФ РАН.

ИФМ РАН входит в состав Отделения физических наук Российской академии наук, c 2009 г. — в состав Нижегородского научного центра РАН (ННЦ РАН).

В институте проводятся фундаментальные научные исследования в области физики поверхности, твердотельных наноструктур, сверхпроводимости и многослойной рентгеновской оптики, а также технологии и применения тонких пленок, поверхностных и многослойных структур.

В ИФМ РАН работают 275 сотрудников, из них более 140 научных сотрудников (21 доктор и 73 кандидата наук, 8 лауреатов Государственной премии, 1 лауреат Государственной премии Российской Федерации для молодых ученых).

Структура

Институт состоит из 6 научных отделов и 8 инженерных, финансовых и хозяйственных подразделений. В состав института входят научно-образовательный центр (НОЦ), Центр коллективного пользования (ЦКП) и макетная мастерская.

Научные школы

В ИФМ РАН работают две научные школы:

• «Создание физических основ нанесения метастабильных многослойных и нанокластерных пленочных структур, исследование их свойств»

Руководители: академик С. В. Гапонов, член-корр. РАН, Н. Н. Салащенко

• «Фундаментальные научные проблемы развития кремниевой оптоэлектроники и освоения терагерцового диапазона с использованием полупроводниковых наноструктур»

Руководитель: проф. З. Ф. Красильник

Центр коллективного пользования

В институте функционирует центр коллективного пользования (ЦКП) «Физика и технология микро- и наноструктур», созданный в 2003 году. В ЦКП выполняется большой набор исследований микро- и наноструктур методами рентгеновской дифракции, аналитической электронной микроскопии, сканирующей зондовой микроскопии, оптической, микроволновой и рентгеновской спектроскопии, вторично-ионной масс-спектроскопии, электрофизические исследования полупроводниковых микроструктур, исследования магнитных и сверхпроводящих свойств плёнок и наноструктур, оптические прецизионные измерения.

Подготовка научных кадров

На базе ИФМ РАН и Нижегородского государственного университета (ННГУ) работает межфакультетская базовая кафедра «Физика наноструктур и наноэлектроника». Более 20 сотрудников преподают в ННГУ и заведуют 3 кафедрами ННГУ. В институте работает аспирантура по специальностям:

• Приборы и методы экспериментальной физики
• Радиофизика
• Физика конденсированного состояния
• Физика полупроводников
• Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано- электроника приборы на квантовых эффектах
• Квантовая электроника

Инновационная деятельность

Разработан и реализован газовый спектрометр терагерцового диапазона, работающий на эффекте свободно затухающей поляризации. Источником излучения является генератор гармоник, получаемых с использованием умножителя частоты на квантовых полупроводниковых сверхрешетках и синтезатора частоты на генераторе Ганна, работающего в диапазоне частот 87—117,5 ГГц.

• Рабочий диапазон частот 1—2,5 ТГц.
• Точность установки частоты ${\displaystyle 10^{-9}}$
• Инструментальная ширина линии < 10 кГц.
• Чувствительность (l = 1 м, ${\displaystyle T_{\text{измер}}/N_{\text{точек}}}$ = 1 с) ${\displaystyle 5\times 10^{-10}{\text{см}}^{-1}}$
• Минимальное время измерения ${\displaystyle 1\times 10^{-6}{\text{с}}}$

Компания ООО Научно-производственное предприятие «Технологические электронные оптические системы» (НПП «ТЭОС») создана в 2005 г. группой сотрудников ИФМ РАН для продвижения на рынок разработанной автоматизированной системы технологического контроля толщины ленты стекла на основе низкокогерентной интерферометрии. Создана серия приборов для контроля качества процесса изготовления стекла и мониторинга технологических процессов, непосредственно использующиеся на производстве. На основе принципов низкокогерентной тандемной интерферометрии разработана аппаратура для высокоточного бесконтактного измерения оптической толщины прозрачных объектов.

Первый тип приборов предназначен для мониторинга толщины ленты флоат-стекла в горячей зоне его формирования (выпускается ООО НПП «ТЭОС»). Благодаря использованию инновационных принципов, защищенных патентами РФ, оборудование превосходит мировые аналоги по большинству ключевых технико-экономических характеристик. К настоящему времени эксплуатируется 13 комплексов на стекольных заводах России, Киргизии и Белоруссии.

Второй тип приборов предназначен для высокоточного мониторинга температуры, контроля толщины и изгиба прозрачных подложек в технологических процессах формирования пленочных наноструктур.

Компания ЗАО «X-Ray» учреждена группой сотрудников ИФМ РАН в 1998 г. с целью продвижения на мировой и отечественный рынки многослойных рентгеновских зеркал и рентгенооптических систем на их основе, предназначенных для коллимации и фокусировки рентгеновского излучения. Рентгеновской диагностике плазмы, рентгенофлуоресцентном элементном анализе, рентгеновской астрономии, микроскопии и нанолитографии.

Такие системы применяются в:

• Разработана технология изготовления широкой номенклатуры элементов многослойной рентгеновской оптики для диапазона длин волн 0,05—100 нм: зеркала, коллиматоры, свободновисящие структуры для фильтрации, поляризации и фазового сдвига рентгеновского излучения.
• Разработан интерферометр с дифракционной волной сравнения и развиты методы для изучения и коррекции формы поверхностей оптических элементов и волновых аберраций оптических систем сверхвысокого разрешения с субнанометровой точностью.

Регулярно организуемые научные конференции

• Симпозиум «Нанофизика и наноэлектроника»

Известные сотрудники

См. также

• Научные учреждения Нижнего Новгорода
• Институты РАН
• Нижегородский научный центр РАН

Ссылки

• Официальный сайт ИФМ РАН

Для улучшения этой статьи желательно: Проставив сноски, внести более точные указания на источники. Найти и оформить в виде сносок ссылки на независимые авторитетные источники, подтверждающие написанное.