WikiSort.ru - Не сортированное

Просвечивающий растровый электронный микроскоп (ПРЭМ, РПЭМ, редко СТЭМ - сканирующий трансмиссионный электронный микроскоп, англ. scanning transmission electron microscope, STEM) - вид просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ). Как и в любой просвечивающей схеме освещения электроны проходят через весьма тонкий образец. Однако в отличие от традиционной ПЭМ в ПРЭМ электронный пучок фокусируется в точку, которой проводят растровое сканирование.

Обычно ПРЭМ - это традиционный просвечивающий электронный микроскоп, оснащенный дополнительными сканирующими линзами, детекторами и необходимыми схемами, однако также существуют и специализированные ПРЭМ приборы.

Коррекция аберраций и высокое разрешение

Применение корректора аберраций позволяет получить электронный зонд суб-ангстремного диаметра, что заметно увеличивает разрешение.

Достижение высокого разрешения требует также стабильных комнатных условий. Для получения изображений атомного разрешения комната должна быть ограничена от вибраций, температурных флуктуаций и внешних электромагнитных полей.

Спектроскопия характеристических потерь энергии электронами

СХПЭЭ в режиме ПРЭМ стала возможна с добавлением соответствующего спектрометра. Высокоэнергетический сведённый электронный пучок в ПРЭМ несет локальную информацию об образце вплоть до атомного разрешения. Добавление СХПЭЭ позволяет производить определение элементов и даже дополнительные возможности в определении электронной структуры или химических связей атомных колонок.

Рассеянные на малые углы неупругие электроны используются в СХПЭЭ совместно с упруго рассеянными на большие углы электронами в ADF (кольцевой темнопольной ПРЭМ) позволяя получать оба сигнала одновременно.

Данная техника популярна в ПРЭМ микроскопах.

См. также

• Электронная томография

Ссылки

• Introduction to Transmission/Scanning Electron Microscopy and Microanalysis, Argonne National Laboratory
• Scanning Transmission Electron Microscopy for Nanostructure Characterization, ORNL
• The Application of Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) to the Study of Nanoscale Systems (Chapter 1) / T. Vogt et al. (eds.), Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy, Nanostructure Science and Technology, 2012, ISBN 9781461421900, DOI:10.1007/978-1-4614-2191-7

Это заготовка статьи по физике. Вы можете помочь проекту, дополнив её.